PCB铜排宽度的Gage R&R报告，应先核对研究设计和百分比的分母。%Study Var比较标准差所对应的研究变差，%Contribution比较方差分量，两者数值不同。量具重复性和再现性合适，也不能单独证明加工过程有能力或测量没有偏倚。
从同一位置的宽度开始
NIST 的量具研究框架把重复性、再现性、稳定性与偏倚列为需要分别考虑的内容。用于铜排宽度时，先在图纸上规定测量截面、接触方向及零件状态。带毛刺的局部宽度、去毛刺后的宽度和镀后宽度，不应混在一个未说明的特征里。
对可重复测量且不会被测量改变的零件，可以规划交叉研究，让每名操作者重复测量同一组零件。将顺序随机安排，避免查看前次读数后刻意追随结果。具体样本量、操作者数量和重复次数由质量计划确定，本页不把一套数量宣布为所有项目的要求。
25%和6.25%可能来自同一组输入
Minitab 的交叉Gage R&R公式分别定义标准差、方差贡献和研究变差。假设模型估计的量具标准差 σgage=0.010 mm，总标准差 σtotal=0.040 mm，并对两者使用相同研究倍数，则标准差比为25%。对应方差比为0.010²/0.040²=6.25%。
| 字段 | 本例算法 | 本例结果 |
|---|---|---|
| %Study Var | 0.010/0.040×100% | 25% |
| %Contribution | 0.0001/0.0016×100% | 6.25% |
| %Tolerance | 研究变差/双边公差宽度×100% | 未给公差，不计算 |
这些是假设的统计输入，没有代表宏川测量结果。0.0001和0.0016的单位为mm²，标准差单位为mm。不能拿6.25%的方差贡献率去套另一个字段的验收线，也不能把几个%Study Var直接相加后要求等于100%。
报告里保留哪些条件
建议保留零件编号、原始读数、操作者、重复次序、仪器编号和测量位置照片，并写明软件方法、交互项处理及总变差的估计来源。研究用零件覆盖范围若改变，总变差及相关百分比也可能改变，应一起解释。
量具的分辨力、校准状态、接触力和定位方式需要核对。发现操作者之间有差异时，先检查各人是否量到相同截面、是否以相同方法定位，再讨论培训或夹具调整。一次研究的良好结果不能替代后续稳定性监控。
它怎样接到尺寸验收
准备定制PCB铜排检验要求时，将尺寸公差、量测系统评价与Cp及Cpk过程能力分别约定。合格判定还需遵守双方确认的方法，不能仅用一个Gage R&R百分比决定整批放行。
常见问题
仪器刚校准，还要做研究吗？校准与生产条件下的重复测量回答不同问题，应按质量计划分别评价。
百分比低就说明绝对误差小吗？还需查看标准差数值、偏倚和分母来源，单看比例不够。
参考资料
NIST 量具R&R研究框架；Minitab 交叉Gage R&R表格公式。
封面为 AI 重复量测概念示意，不是宏川量具研究记录。算例不构成过程能力、测量精度或验收限值承诺。